本文標(biāo)題："不同地層材料電阻率測(cè)量的方法-測(cè)量顯微鏡常識(shí)"

簡(jiǎn)述地電阻影像掃瞄法。

解　答：“地電阻影像掃瞄法”(electrical resistivity tomograph，ERT)

屬直流電阻法，其方法原理系利用直流電經(jīng)電極棒通入

地下量測(cè)地層電阻率，并以電性區(qū)分地層。

舉凡地層巖性、組成礦物、顆粒大小、地層含水狀況、水中之含鹽

度，皆為影響地層電阻率之因素。故直流電阻法所測(cè)得

之電阻率資料，配合地質(zhì)狀況及鉆探的分析結(jié)果，可正

確地研判水位、含水層、阻水層(或滯水層)分佈、地層巖

性構(gòu)造及地層中之異常區(qū)(如污染訊號(hào))。近年來(lái) MADE

場(chǎng)址大量研究以 ERT 法探勘剖面逆推大范圍含水層之 K

值分佈，供后續(xù)調(diào)查及整治規(guī)劃之參考。如圖 5-12 為 ERT

法探勘地下環(huán)境特征之實(shí)例

透過(guò)不同地層材料電阻率差異所產(chǎn)生之電性地層，逆推各種地層組成或異常地質(zhì)構(gòu)造。

簡(jiǎn)述何謂局部性流場(chǎng)，并說(shuō)明可來(lái)描述區(qū)域之水平范圍。

解　答：局部流場(chǎng)一般系指水平范圍小于 5 公里，對(duì)地下水補(bǔ)注

反應(yīng)迅速。局部流場(chǎng)于鹽化之研究顯示，當(dāng)范圍內(nèi)地表

植被移除后，30～50 年之間即可發(fā)現(xiàn)局部流場(chǎng)之地下水

水位上升及鹽化之現(xiàn)象，可提前審視并改進(jìn)地下水鹽化

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不同地層材料電阻率測(cè)量的方法-測(cè)量顯微鏡常識(shí),熒光顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)